لینک دانلود و خرید پایین توضیحات
دسته بندی : وورد
نوع فایل : .doc ( قابل ویرایش و آماده پرینت )
تعداد صفحه : 14 صفحه
قسمتی از متن .doc :
اساس کار میکروسکوپ عبور الکترونی:
برخورد الکترون با ماده شامل سازو کارهای مختلفی میباشد که از مهمترین آنها میتوان به برخورد وتولیدالکترون ثانویه پس پراکندگیو پیش پراکندگی تولید اشعه x و الکترون اوژه اشاره
کرد. با توجه به سازوکارهای موجود تحلیل نتایج هر یک از این ساز وکار ها داده هایی را در مورد
شکل واندازه ،ساختار وترکیب شیمیایی ماده به دست میدهد .ابتدا نحوه اندرکنش الکترون _
ماده و تصویر برداری میکروسکوپ عبور الکترونی را بررسی کرده وسپس به سایر روشها مورد استفاده از جمله پراش الکترون وEDS می پردازیم .
بر هم کنش الکترون با اتم وتفنگ الکترونی :
پرتو الکترونی به روشهای مختلفی تولید می شودکه ار مهمترین آنها میتوان به گسیل ترمویونبک (Thermoionic Emission) وگسیل میدانی اشاره کرد.برای گسیل ترمویونیک به طور معمول ازیک المان داغ استفاده می کنند که تا دمای حدود2800 درجه کلوین گرم میشود ،جنس المان اغلب از تنگستن یا6LaB است.مجموعه المان را نسبت به شبکه های شتاب دهندهدر پتانسیل منفی نگه می دارند و الکترونهای تولید شده در اثر پدیده تر مویونیک در پتانسیل بالا شتاب گرفته و انرژی بالایی کسب میکنند.
شکل 1_اساس گسیل ترمو یونیک و تولید باریکه الکترون
در روش گسیل میدانی از پدیده تونل زنی استفاده می شود ،در این حالت بااعمال میدان بالا درسطح فلز وکاهش سد پتانسیل الکترون می تواند تونل زده واز سطح فلز خارج شود ،در این صورت میتوان شار بزرگی از الکترون ایجاد کرد؛مقدار بار ایجاد شده در این پدیده به میدان اعمال بستگی دارد؛برای به دست آوردن بهرهی بالا برای تولید جریان باید از فلزی با نوک بسیار تیز استفاده کرد و برای جلوگیری از اکسید شدن خلاءخیلی بالا نیز (Ultra High Vacuum) مورد نیاز است.در هردو حالت الکترونهای ایجاد شده،را می توان به کمک میدان مغناطیسی (که مجموعه مورد استفاده عدسی مغنا طیسی نامیده می شود.)کانونی کرد و باریکه الکترونی مناسبی تولید کرد،شکل2_نمونه ای از عدسی مغناطیسی مورد استفاده را نشان می دهد.
شکل 2_ نمونه ای از عدسی مغنا طیسی
در اثر برخورد باریکه الکترونی با ماده پدیده های متنوعی روی می دهد که انواع پراکندگی ها (Scattering) را شامل میشود که مهمترین آنها عبارتند از :
پراکندگی الاستیک بدون تغییر انرژی تکانه الکترون تغییر می کند .
پراکندگی غیر الاستیک که الکترون بخشی از انرژی خود را از دست می دهد که شامل موارد زیر است :
پراکندگی ناشی از تولید فوتون (کوانتای ارتعاشی شبکه )
پراکندگی در اثر برخورد با بار آزاد سطحی در فلزات که پراکندگی پلاسمونی نامیده میشود .
بر انگیختگی الکترون والانس
برانگیختگی الکترونهای مدار داخلی ماده که در تولید اشعه x مشخصه ماده نقش دارد .
جذب :در این حالت الکترون در برخورد های پی در پیتمام انرژی خود رابه ماده منتقل میکند
شکل3_سازو کارهای موجود در برخورد باریکه الکترونی با ماده
،در اثر برخورد باریکه الکترونی با ماده الکترونهای ثانویه تولید می شود .هر چند تولید الکترونهای اولیه کم اترژی والکترونهای ثانویه عمتا دشوار است ،علاوه بر الکترونهای ثانویه الکترونهای پس پراکنده شده نیز وجود دارند که برای تصویر برداری الکترونی روبشی از آنها استفادهد می شود ،الکترونها در برخورد اولیه با ماده موجب بر انگیختگی الکترونهای تراز های داخلی ماده می شود الکترونهای برانگیخته شده به دو صورت به حالت پایه بر میگردند که عبارتند از :
تولید الکترون اوژه وتولید اشعه x که با اندازه گیری هر کدام از آنها می توان برخی از ویژگیهای ماده را بدست آورد ،در صورتی که تراز بر انگیخته شده تراز خارجی اتم باشد ،الکترون با گسیل فوتون می تواند به حالت پایه بر گردد.شکل (4) شمایی از سازوکار های موجود در بر انگیختگی تراز های انرژی در اثر بر خورد الکترون را نشان می دهد.
لینک دانلود و خرید پایین توضیحات
دسته بندی : وورد
نوع فایل : .doc ( قابل ویرایش و آماده پرینت )
تعداد صفحه : 31 صفحه
قسمتی از متن .doc :
میکروسکوپ فاز کنتراست
مقدمه
احتمالا مهمترین پیشرفتی که در تکنیک میکروسکوپی در سالهای قبل از 1960 حاصل شد توسعه میکروسکوپهای فاز کنتراست و تداخلی بود. در این نوع میکروسکوپها بافتهای زنده را در حالی که ثابت نشدهاند (unstained) میتوان با کانتراست خوب و رزولوشن مناسب مشاهده نمود. برای آنکه بتوان جزئیات یک شیئی را قابل رویت نمود. این عمل را با رنگ آمیزی میتوان انجام داد. در صورتی که شیئی مورد نظر رنگ آمیزی نشده (unstained) باشد میتوان بدون دخالت در ساختمان یا حیات آن شیئی ضریب انکسار قسمتهای متعددی از آنرا کم یا زیادتر از مادهای که شیئی در آن قرار دارد نمود. در صورتی که اختلاف ضریب شکستها خیلی کم باشد. به گونهای که قابل مشاهده نباشد میتوان از میکروسکوپ زمینه تاریک استفاده نمود. میکروسکوپ زمینه تاریک عمدتا نشان دهنده لایههای سطحی نمونه بجای ساختمان داخلی میباشد.علاوه بر آن لازمه این سیستمها استفاده از لامپهای با قدرت زیاد میباشد که بعضا وقتی که مدت زمان مشاهده زیاد باشد بایستی از سیستم خنک کننده استفاده شود. این در حالی است که میکروسکوپ فاز – کنتراست دارای این اشکالات نمیباشد و میتوان ساختمان داخلی شیئی را بخوبی مشاهده نمود. در حالت کلی بخشهایی از شیئی که دارای ضرائب انکسار زیادتر باشند در مقایسه با زمینه روشنتر تاریک و یا بلعکس میباشد که البته این مطلب بستگی به نوع سیستم – منفی یا مثبت بودن میکروسکوپ دارد. لامپ نوری مورد استفاده در این نوع میکروسکوپ یک لامپ معمولی میباشد و همه دهانه عدسی شیئی در تشکیل تصویر شرکت مینمایند. در این نوع میکروسکوپ و رزولوشن نسبت به زمینه تاریک ضعیفتر است و این بخاطر پدیده شکست نور و تغییر فاز آن میباشد.
اصول کلی
هدف از این میکروسکوپها قابل دیدن نمونههائی است که موجب تغییر قابل توجهی در شدت (دامنه) نور عبوری از آن مثل حالت نمونههای رنگ آمیزی شده (stained) نمیباشد. تنها تغییری که اجزاء مختلف این گونه نمونهها بر روی نور عبوری بوجود میآورند آن است که موجب تغییر در فاز آنها میشود. به عبارت دیگر در روشهای میکروسکوپهای معمولی سیستم ساختمانی نمونه به گونهای است که اجزاء مختلف آن دارای خاصیت جذب متفاوت نور برخوردی به آنها میباشد و بدین لحاظ نور عبور کرده از نمونه در قسمتهای مختلف دارای شدتهای مختلفی میباشند که این تغییر در شدت بستگی به مقدار جذب در قطعات و اجزاء مختلف نمونه وارد و بنابراین ناحیهای که جذب کمتر اتفاق میافتد تصویر شیئی روشنتر و بخشهای با جذب بیشتر تاریکتر مشاهده میشوند. در این نمونهها تصویر از نور عبور نموده از نمونه تشکیل میشود. بسیاری از نمونهها شدت نور عبور نموده را تغییر چندانی نمیدهند و لیکن اجزاء مختلف موجب تغییر فاز نور عبور نموده از آنها میشوند و لیکن با توجه به آنکه چشم حساس به فاز یا تغییر فاز نمیباشند لذا بایستی به نحوی این تغییر فاز را قابل مشاهده نمائیم. بنابراین هدف از میکروسکوپ فاز کنتراست تبدیل تغییر فاز به تغییر دامنه است که بتواند بوسیله چشم قابل مشاهده شود.وقتی که نور از کندانسور عبور نموده و به شیئی برخورد نماید در آن صورت به دلیل پدیده تفرق حاصله در اثر جسم طیف تفرق یافته در پشت عدسی چشمی حاصل میشود. با توجه به آنکه جسم مثل یک شبکه متفرق کننده عمل مینماید در آن صورت تصویر در این شبکه در اثر تفرق در پشت عدسی چشمی ایجاد میشود. تصویر حاصله که نشان دهنده جزئیات جسم است در اثر ترکیب نور متفرق شده و نور عبور نموده بدون تفرق ایجاد میشود. به علت آنکه بین نور متفرق شده و نور عبور نموده بدون تفرق ایجاد میشود. به علت آنکه بین نور متفرق شده و نور مستقیم اختلاف فاز وجود دارد لذا این دو نوع پرتو با همدیگر ترکیب شده و تداخل انجام میشود و در نتیجه اختلاف فاز این دو نوع نوز ایجاد تغییر در دامنه یا شدت نور در صفحه تصویر مینماید. میکروسکوپهای فاز – کنتراست بگونه ای طراحی شده اند که تغییر فاز حاصله در اثر وجود نمونه و تغییر فاز در اثر تغییر ضریب شکست در اجزاء مختلف آن این تغییر فاز به تغییر شدت تبدیل شود.در صورتی که نورهای عبور نموده از جزهای مجاور همدیگر دارای اختلاف فاز ناچیز باشند در آن صورت اختلاف فاز بین تقریبهای صفر و یک برابر λ 4/0 خواهد بود. در آن صورت به دلیل این اختلاف فاز نور ترکیب شده ، تشکیل نوارهای تداخلی مینماید. حال اگر توجه نمائیم نور عبور نموده از طرف دیگر نیز به همین شکل دارای اختلاف فاز ولی در جهت عکس همدیگر میشوند و لذا نور رسیده به آن نقطه صفر میباشد و بنابراین ساختمان شیئی قابل رؤیت نمیباشد. در میکروسکوپهای فاز کنتراست تأثیر یک مانع با ضخامت λ 4/0 آن است که موجب هم فاز ساختن نوارهای تداخلی از دو طرف شود و در نتیجه افزایش دامنه حاصل می شود.سیستم ساختمانی یک میکروسکوپ فاز کنتراست استاندارد به گونهای است که یک روزنه دایره ای شکل در محل صفحه کانون کندانسور substage وجود دارد که شیئی بوسیله یک دسته پرتو مخروطی شکل روشن میشود. تویر مستقیم این دایره روشن بوسیسله عدسی شیئی در محل کانون F عدسی شیئی تشکیل میشود. همچنین روی این صفحه تصویرهای متفرق شده بوسیله شیئی و ساختمان داخلی
لینک دانلود و خرید پایین توضیحات
فرمت فایل word و قابل ویرایش و پرینت
تعداد صفحات: 15
میکروسکوپ الکترونی
1- مقدمه
به طور کلی در میکروسکوپ های الکترونی سه نوع عدسی وجود دارد:
1-عدسی جمع کننده (Condenser Lens)
2-عدسی شیئی (Objective Lens)
3-عدسی تصویری (Projector Lens)
عدسی جمع کننده دسته الکترون را بر روی نمونه متمرکز می نماید. عدسی شیئی یک تصویر بزرگ شده اولیه ایجاد نموده، برای حصول بزرگنمایی بیشتر از عدسی تصویری استفاده می شود. تصویر نهایی بدست آمده بر روی یک صفحه فلورسنت قابل رویت است.
از انواع عدسی های شیئی مورد مصرف می توان به:
عدسی مخروطی (Conical Lens)
عدسی فروبر (Immersion Lens)
اشاره نمود. تصویری از این دو نوع عدسی در شکل مشاهده می شود. عمدتا عدسی های مخروطی در میکروسکوپ الکترونی روبشی Scanning Electron Microscope) عدسی های فروبر در میکروسکوپ الکترونی عبوری Transmission Electron Microscope یا TEM کاربرد دارند.
الف) عدسی مخروطی که اجازه می دهد یک نمونه بزرگ در بیرون آن قرار گیرد.
ب)عدسی فروبر که یک نمونه کوچک در داخل آن قرار می گیرد.
به دلیل وجود محدودیت طراحی، عدسی های الکترونی با روزنه های بسیار کوچکتری نسبت به عدسی های شیشه ای میکروسکوپ های نوری کار می کنند. میدان الکترونی که توسط روزنه عدسی قابل کنترل است، ستون میکروسکوپ (Microscope Column) نامیده می شود. بسیاری از میکروسکوپ های الکترونی جدید حاوی 4 تا 6 عدسی هستند.
یک عدسی مغناطیسی مشتمل بر پوسته ای آهنی و سیم پیچ هایی مسی است که درمیدان مغناطیسی خود به دسته الکترون های وارد شده نیرو وارد کرده و بر اساس قانون دست راست فلمینگ آن ها را از مسیر خود منحرف می سازد. در این صورت این امکان فراهم می آید که بتوان الکترون ها را در مسیر خاصی قرار داده همگرا نموده و بر جای مشخصی متمرکز نمود. فاصله نقطه همگرا شدن الکترون ها تا عدسی را فاصله کانونی (Focal Distance) می نامند. فاصله کانونی در ارتباط مستقیم با مقدار ولتاژ شتاب دهنده الکترون ها و در ارتباط معکوس با تعداد دور سیم پیچ و شدت جریان عبوری قرار دارد.
لینک دانلود و خرید پایین توضیحات
فرمت فایل word و قابل ویرایش و پرینت
تعداد صفحات: 15
میکروسکوپ الکترونی
1- مقدمه
به طور کلی در میکروسکوپ های الکترونی سه نوع عدسی وجود دارد:
1-عدسی جمع کننده (Condenser Lens)
2-عدسی شیئی (Objective Lens)
3-عدسی تصویری (Projector Lens)
عدسی جمع کننده دسته الکترون را بر روی نمونه متمرکز می نماید. عدسی شیئی یک تصویر بزرگ شده اولیه ایجاد نموده، برای حصول بزرگنمایی بیشتر از عدسی تصویری استفاده می شود. تصویر نهایی بدست آمده بر روی یک صفحه فلورسنت قابل رویت است.
از انواع عدسی های شیئی مورد مصرف می توان به:
عدسی مخروطی (Conical Lens)
عدسی فروبر (Immersion Lens)
اشاره نمود. تصویری از این دو نوع عدسی در شکل مشاهده می شود. عمدتا عدسی های مخروطی در میکروسکوپ الکترونی روبشی Scanning Electron Microscope) عدسی های فروبر در میکروسکوپ الکترونی عبوری Transmission Electron Microscope یا TEM کاربرد دارند.
الف) عدسی مخروطی که اجازه می دهد یک نمونه بزرگ در بیرون آن قرار گیرد.
ب)عدسی فروبر که یک نمونه کوچک در داخل آن قرار می گیرد.
به دلیل وجود محدودیت طراحی، عدسی های الکترونی با روزنه های بسیار کوچکتری نسبت به عدسی های شیشه ای میکروسکوپ های نوری کار می کنند. میدان الکترونی که توسط روزنه عدسی قابل کنترل است، ستون میکروسکوپ (Microscope Column) نامیده می شود. بسیاری از میکروسکوپ های الکترونی جدید حاوی 4 تا 6 عدسی هستند.
یک عدسی مغناطیسی مشتمل بر پوسته ای آهنی و سیم پیچ هایی مسی است که درمیدان مغناطیسی خود به دسته الکترون های وارد شده نیرو وارد کرده و بر اساس قانون دست راست فلمینگ آن ها را از مسیر خود منحرف می سازد. در این صورت این امکان فراهم می آید که بتوان الکترون ها را در مسیر خاصی قرار داده همگرا نموده و بر جای مشخصی متمرکز نمود. فاصله نقطه همگرا شدن الکترون ها تا عدسی را فاصله کانونی (Focal Distance) می نامند. فاصله کانونی در ارتباط مستقیم با مقدار ولتاژ شتاب دهنده الکترون ها و در ارتباط معکوس با تعداد دور سیم پیچ و شدت جریان عبوری قرار دارد.
لینک دانلود و خرید پایین توضیحات
فرمت فایل word و قابل ویرایش و پرینت
تعداد صفحات: 15
میکروسکوپ الکترونی
1- مقدمه
به طور کلی در میکروسکوپ های الکترونی سه نوع عدسی وجود دارد:
1-عدسی جمع کننده (Condenser Lens)
2-عدسی شیئی (Objective Lens)
3-عدسی تصویری (Projector Lens)
عدسی جمع کننده دسته الکترون را بر روی نمونه متمرکز می نماید. عدسی شیئی یک تصویر بزرگ شده اولیه ایجاد نموده، برای حصول بزرگنمایی بیشتر از عدسی تصویری استفاده می شود. تصویر نهایی بدست آمده بر روی یک صفحه فلورسنت قابل رویت است.
از انواع عدسی های شیئی مورد مصرف می توان به:
عدسی مخروطی (Conical Lens)
عدسی فروبر (Immersion Lens)
اشاره نمود. تصویری از این دو نوع عدسی در شکل مشاهده می شود. عمدتا عدسی های مخروطی در میکروسکوپ الکترونی روبشی Scanning Electron Microscope) عدسی های فروبر در میکروسکوپ الکترونی عبوری Transmission Electron Microscope یا TEM کاربرد دارند.
الف) عدسی مخروطی که اجازه می دهد یک نمونه بزرگ در بیرون آن قرار گیرد.
ب)عدسی فروبر که یک نمونه کوچک در داخل آن قرار می گیرد.
به دلیل وجود محدودیت طراحی، عدسی های الکترونی با روزنه های بسیار کوچکتری نسبت به عدسی های شیشه ای میکروسکوپ های نوری کار می کنند. میدان الکترونی که توسط روزنه عدسی قابل کنترل است، ستون میکروسکوپ (Microscope Column) نامیده می شود. بسیاری از میکروسکوپ های الکترونی جدید حاوی 4 تا 6 عدسی هستند.
یک عدسی مغناطیسی مشتمل بر پوسته ای آهنی و سیم پیچ هایی مسی است که درمیدان مغناطیسی خود به دسته الکترون های وارد شده نیرو وارد کرده و بر اساس قانون دست راست فلمینگ آن ها را از مسیر خود منحرف می سازد. در این صورت این امکان فراهم می آید که بتوان الکترون ها را در مسیر خاصی قرار داده همگرا نموده و بر جای مشخصی متمرکز نمود. فاصله نقطه همگرا شدن الکترون ها تا عدسی را فاصله کانونی (Focal Distance) می نامند. فاصله کانونی در ارتباط مستقیم با مقدار ولتاژ شتاب دهنده الکترون ها و در ارتباط معکوس با تعداد دور سیم پیچ و شدت جریان عبوری قرار دارد.