دانلود پاورپوینت میکروسکوپ نیروی اتمی

لینک دانلود و خرید پایین توضیحات

دسته بندی : پاورپوینت

نوع فایل :  .PPT ( قابل ویرایش و آماده پرینت )

 قسمتی از متن .PPT : 

تعداد اسلاید : 18 اسلاید

به نام خدا AFM میکروسکوپ نیروی اتمی Atomic Force Microscopy
میکروسکوپ نیروی اتمی AFM از آنجا که قدرت تحلیل بی مانندی دارد به عنوان یک ابزار با ارزش در بررسی مواد معرفی شده است. قدرت AFM در تصویر کردن صفحات در گازها یا در زیر مایعات، توانایی آن را در حل مسایل صنعتی بسیار بالا برده است. شایان ذکر است این پیشرفت های حاصل شده در STM بود که باعث اختراع دستگاهی با ویژگیهای AFM گردید. اصول عملکرد میکروسکوپ AFM
در AFM سوزن تیزی که به صورت تک اتمی است، برروی یک سطح نرم اعوجاج و فنری نصب شده است. ثابت فنر این پایه کمتر از ثابت فنری است که اتمهای نمونه را درکناریکدیگر نگه می دارد.این سوزن سطح نمونه را در فاصله ای بسیار نزدیک ( در حد آنگستروم ) روبش می نماید. در این هنگام بین سوزن و نمونه نیروی هایی برقرار است که سوزن را در فاصله معینی از سطح نگه می دارد. وقتی سوزن روی سطح حرکت می کند، از آنجایی که می بایست فاصله سوزن تا سطح ثابت باشد، سوزن مطابق با توپوگرافی سطح شروع به بالا و پایین می نماید. همین امر شاخص های مطالعه سطح را فراهم می آورد.
در شکل (13 ) طرحی از سوزن و نمونه ارایه شده است. جنس این سوزن می تواند از نیترید سیلیسیم باشد. در شکل (14 ) نمایی از سوزن هرمی شکل از جنس SiN مشاهده می شود. به کارگیری این سوزن در دستگاه های تجاری مرسوم است. شعاع ظاهری انحنای نوک آن نیز می تواند بین 20 تا 50 نانومتر باشد. در شرایط ایده آل نوک این سوزن باید به یک اتم ختم شود. AFM (ATOMIC FORCE MICROSCOPY) AFM (ATOMIC FORCE MICROSCOPY) نوسانات سوزن در هنگام روبش نمونه با استفاده از قوانین فیزیک نور ( اپتیک ) رصد می شود. در دستگاه های AFM امروزی یک منبع تولید نور لیزر، یک دسته اشعه نوری را به روی فنر می تاباند. با لرزش و جابجایی فنر، زاویه تابش لیزر منحرف می گردد. انحراف صفحه فنر به اندازه زاویه  منجر به انحراف اشعه لیزر به اندازه  2 خواهد شد. اشعه لیزر منعکس شده، توسط مقاطع دیودی حساس به نور ردگیری می شود. بدین ترتیب پستی و بلندی های اتمی سطح نمونه قابل رویت خواهد بود . شکل (15 ) تصویری کلی از ردیابی در دستگاه AFM را نشان می دهد. AFM (ATOMIC FORCE MICROSCOPY) درAFM سوزن همواره متاثر از سطح نمونه است که آن را نحوه تماس می نامند . براثر نفوذ پوسته الکترونی سوزن و اتم های ریزساختار، در سطح همواره یک نیروی دافعه وجوددارد. این نیروی دافعه، نیرویی درمحدوده کوتاه می باشد. علاوه براین نیرو، نیروهای دامنه بلند نیز وجوددارند که میتوانند جذب ویا دفع کننده باشند این نیروها می توانند شامل نیروی بار واکنش درونی دو قطبی ( Dipole Interaction) نیروی دو قطبی(polarization Force ) و نیروهای پراکندگی واندروالس (Vander Waals Didpersion Forces ) باشند. جذب و دفع این نیروها را میتوان درشکل (16) مشاهده نمود AFM (ATOMIC FORCE MICROSCOPY) براین اساس درکنار AFM فن آوریهای میکروسکوپی مشابهی براساس نیرو نیز وجود خواهند داشت، مانند میکروسکوپ بر پایه الکتریکی ، میکروسکوپ برپایه ی نیروی مغناطیسی و میکروسکوپ بر پایه نیروی واندروالس که می توانند بدون تماس با نمونه و با استفاده از نیروه